Forschungsobjekte:
Halbleiter- und Festkörpereigenschaften
von
Bor und borreichen Boriden
Ziel der Untersuchungen ist die Aufklärung der Wechselbeziehung zwischen elektronischen und strukturellen Eigenschaften von Festkörpern mit komplexen Strukturen am Beispiel der borreichen Festkörper.Für einige borreiche Festkörper mit Ikosaederstruktur beta-rhomboedrisches Bor, Borcarbid) konnte die quantitative Übereinstimmung zwischen der Konzentration von Strukturdefekten und abgespaltenen Valenzbandzuständen nachgewiesen werden, welche in der verbotenen Zone dieser Halbleiter angesiedelt sind und bekanntermaßen die elektronischen Eigenschaften stark beeinflussen.
Untersuchte Festkörper:
Bor (elementar): alpha-rhomboedrisch, beta-rhomboedrisch, amorph
Borcarbid: gesamter Homogenitätsbereich von B 4.3C bis B~11C
Strukturgruppe des alpha-rhomboedrischen Bors
Strukturgruppe des beta-rhomboedrischen Bors
Strukturgruppe des alpha-tetragonalen Bors
Strukturgruppe des beta-tetragonalen Bors
Strukturgruppe der Kristalle des Typs MgAl B 14
Strukturgruppe der Kristalle des Typs YB66
Metalhexaboride (metallisch, halbleitend, intermediäre Valenz)
Metall-Dodecaboride
Optische Eigenschaften:
Interbandübergänge
Störstellen- und Leerstellenübergänge
Phononen
Plasma schwingungen
Lumineszenz
Elektronische Transporteigenschaften:
Elektrische Leitfähigkeit
Dynamische leitfähigkeit
Hall-Effekt
Thermoelectrische Eigenschaften
Photoleitfähigkeit
Diffusion and Drift optisch generierter Ladungsträger
Strukturelle Eigenschaften:
Aufklärung struktureller Details, die sich wegen ihres statistischen Characters der Aufklärung durch Röntgen- und NMR-Methoden entziehen. Hierbei handelt es sich insbesondere um die Verteilung der atomaren Komponenten und der Defekte in Borverbindungen.An RE-Metall-Dodecaboriden wurde nachgewiesen, dass Bor-Leerstellen, geringe Verschiebungen der Metall-Atome aus der Idealposition und sogar die Verteilung der Borisotope in natürlich angereichertem Bor zu einer Verletzung der Auswahlregeln führt, die stark genug ist, um sie mit der Raman-Spektroskopie nachzuweisen [136].
Untersuchungen an SiC:
Untersuchung der Eigenschaften von monokristallinem und gesintertem SiC